「Deep Learning 外観検査評価キット for Windows」の提供を開始

Press Release

2017 年 8 月 21 日
各 位
株式会社システム計画研究所
菱洋エレクトロ株式会社


「Deep Learning 外観検査評価キット for Windows」の提供を開始

菱洋エレクトロ株式会社（以下「菱洋エレクトロ」
）はこのたび、株式会社システム計画研究所（以下
）および株式会社日本 HP（以下「日本 HP」
「システム計画研究所」 ）と共同で構築したソリューション
「Deep Learning 外観検査評価キット for Windows」の提供を開始いたします。


「Deep Learning 外観検査評価キット for Windows」は、システム計画研究所が開発した AI 外観検
」を日本 HP 製ワークステーション「Z2 Mini」に搭載するこ
査ソフトウェア「gLupe（ジー・ルーペ）
とで、AI/Deep Learning を活用した外観検査（不良品検出）の実証実験を容易かつ安価に行うことので
きる評価ツールです。


「gLupe」は製造業における製品の外観検査に特化されたソフトウェアであり、システム計画研究所
の独自技術によって、通常は数千～数万を要する学習データを十数程度の正常データのみでマッチング
させることができ、製造現場に AI をスピーディに導入することが可能です。また、画像の識別により
不良品の検出を行うため、金属部品や樹脂部品など素材を問わない点も特長です。


「Z2 Mini」は本体サイズが 216×216×58mm という小型な筐体でありながら、インテル® Xeon®
プロセッサーと NVIDIA® Quadro® グラフィックスを搭載したデスクトップ型ワークステーションで
す。パフォーマンスに優れていることはもちろん、組込み用途での使用を想定した耐久テストや熱処理
が施されており、高い信頼性も兼ね備えています。




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 菱洋エレクトロでは、主に研究用途を対象として「gLupe」を NVIDIA 社の「Jetson™ TX1 開発キッ
ト」に搭載したモジュール型コンピュータを既にリリースしていますが、コマンドベースでの操作が必
要であった従来の評価キットに対し、Windows ベースでの学習および評価が可能となった「Deep
Learning 外観検査評価キット for Windows」は、より実用化に近い形で実証実験を行うことができる
評価ツールとなっています。




従来、多くの人的リソースや熟練の技を要する外観検査に対して、システム計画研究所と菱洋エレク
トロの両社は「Deep Learning 外観検査評価キット for Windows」の展開によって、
“高精度”
“省力
化”“低コスト”を兼ね備えた外観検査システムの実現を目指してまいります。




以 上


【本製品に関するお問い合わせ先】
株式会社システム計画研究所 菱洋エレクトロ株式会社
gLupe 製品窓口 IoT 営業本部 IoT 推進部
E-mail：glupe@isp.co.jp TEL：03-3546-6180
E-mail：contact@ryoyo.co.jp




【本リリースに関するお問い合わせ先】
菱洋エレクトロ株式会社
経営戦略室 経営企画部
TEL：03-3546-5088
E-mail：irmanager@ryoyo.co.jp



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